img
Depth profile study on Ti/Al bilayer Ohmic contacts to AlGaN/GaN  
Yazarlar
Doç. Dr. Abdullah AKKAYA Doç. Dr. Abdullah AKKAYA
Kırşehir Ahi Evran Üniversitesi, Türkiye
Enise Ayyıldız
Erciyes Üniversitesi, Türkiye
Bildiri Türü Tebliğ/Bildiri
Bildiri Alt Türü Tam Metin Olarak Yayımlanan Tebliğ (Uluslararası Kongre/Sempozyum)
Bildiri Niteliği Alanında Hakemli Uluslararası Kongre/Sempozyum
Bildiri Dili İngilizce
Kongre Adı 2nd International Congress on Semiconductor Materials and Devices (ICSMD 2018)
Kongre Tarihi 28-08-2018 / 31-08-2018
Basıldığı Ülke Türkiye
Basıldığı Şehir Ardahan
BM Sürdürülebilir Kalkınma Amaçları
Atıf Sayıları
Depth profile study on Ti/Al bilayer Ohmic contacts to AlGaN/GaN

Paylaş