img
Programming the Measurement System by using VEE Pro to Determine Cyclic I-V Characteristics: Resistive Switching Device Application     
Yazarlar
Ersin Temel
Giresun Üniversitesi, Türkiye
Doç. Dr. Abdullah AKKAYA Doç. Dr. Abdullah AKKAYA
Kırşehir Ahi Evran Üniversitesi, Türkiye
Özet
Bu çalışmada, iki kutuplu ve tek kutuplu dirençli anahtarlama aygıtları için döngüsel akım-gerilim (I–V) ölçümleri için basit bir program hazırlanmıştır. Bu döngüsel akım-gerilim ölçüm programı (CYC-IV) Keysight VEE Pro (Visual Engineering Environment Program) yazılımı altında geliştirilmiştir ve grafik arayüze sahiptir. CYC-IV, tarama modunda dirençli anahtarlama cihazlarının I-V ölçümü için Keysight B2912 Hassas Kaynak/Ölçüm Birimi'ni (SMU) programlamak üzere geliştirilmiştir. CYC-IV altı farklı tarama modunda kullanılabilir. Ayrıca gerilim artış hızı, üst ve alt gerilimin limitleri, döngü gecikme süresi ve döngü sayısı kullanıcı tarafından kolaylıkla tanımlanabilir. Ölçüm sonuçları, ölçümlerle aynı anda görüntülenebilen üç grafikte görselleştirildi.
Anahtar Kelimeler
Makale Türü Özgün Makale
Makale Alt Türü Ulusal alan endekslerinde (TR Dizin, ULAKBİM) yayımlanan tam makale
Dergi Adı Erzincan Universitesi Fen Bilimleri Ensitusu Dergisi
Dergi ISSN 2149-4584
Dergi Tarandığı Indeksler TR DİZİN
Makale Dili İngilizce
Basım Tarihi 03-2023
Cilt No 16
Sayı 1
Sayfalar 110 / 119
Doi Numarası 10.18185/erzifbed.1168992
Makale Linki http://dx.doi.org/10.18185/erzifbed.1168992