Spray Pyrolysis Metodu ile Elde edilen CdS ve Cd0.8In0.2S Filimlerinin Bazı Fiziksel Özelliklerinin İncelenmesi
Yazarlar (3)
Prof. Dr. Osman ÖRNEK
Ahi Evran Üniversitesi, Türkiye
Eskişehir Osmangazi Üniversitesi, Türkiye
Eskişehir Osmangazi Üniversitesi, Türkiye
| Makale Türü | Özgün Makale (Ulusal alan endekslerinde (TR Dizin, ULAKBİM) yayınlanan tam makale) | ||
| Dergi Adı | Anadolu Üniversitesi Fen Fakültesi Dergisi | ||
| Dergi ISSN | 1300-8692 | ||
| Dergi Tarandığı Indeksler | TR DİZİN | ||
| Makale Dili | Türkçe | Basım Tarihi | 04-1996 |
| Cilt / Sayı / Sayfa | – / 2 / 161–172 | DOI | – |
| Makale Linki | https://trdizin.gov.tr/search/searchResults.xhtml | ||
| Özet |
| Spray pyrolysis metodu ile 350 °C taban sıcaklığında elde edilen CdS ve $Cd_{0.8}In_{0.2}S$ filimlerinin bazı elektrik ve optik özellikleri ile kristal yapıları incelenmiştir. Bu filimlerin, elektrik özdirençleri tavlamadan önce sırası ile 2.5x$10^4$ (ohm-cm) ve 2.5x$10^2$ (ohm-cm) ve 250-450 °C arasındaki sıcaklıklarda, tavlamadan sonra CdS için 2.5x$10^4$-5x$10^6$ (ohm cm), $Cd_{0.8}ln_{0.2}S$ için 2.5x$10^2$-2.5x$10^5$ (ohm cm) arasında değiştiği hesaplanmıştır. Bu filimlerin yasak enerji aralıkları optik metodla CdS için 2.42 eV ve 2.44 ev, $Cd_{0.8}ln_{0.2}S$ için 2-39 eV ve 2-44 eV olmak üzere farklı ikişer değer bulunmuştur. X-ışını toz kırınım desenlerinden heriki filimin kristal yapılarının ASTM kartlarından hegzagonal olduğu tesbit edilmiştir. Yaptığımız deney sonucunda elde edilen $Cd_{0.8}ln_{0.2}S$ bilimlerin, tavlama işleminden sonra özdirençlerinde belirgin bir artışın olduğu görülmüştür. $Cd_{0.8}ln_{0.2}S$ filiminin özdirenci.CdS' ün özdirencine göre tavlamadan önce ve sonra biraz düşük ölçülmüştür. X-ışını spektrumları bu filimlerin polikristal olduklarını göstermektedir. |
| Anahtar Kelimeler |
