| Yazarlar |
Doç. Dr. Osman ÖRNEK
Ahi Evran Üniversitesi, Türkiye |
ATAY FERHUNDE
Eskişehir Osmangazi Üniversitesi, Türkiye |
|
KÖSE SALİH
Eskişehir Osmangazi Üniversitesi, Türkiye |
| Özet |
| Spray pyrolysis metodu ile 350 °C taban sıcaklığında elde edilen CdS ve $Cd_{0.8}In_{0.2}S$ filimlerinin bazı elektrik ve optik özellikleri ile kristal yapıları incelenmiştir. Bu filimlerin, elektrik özdirençleri tavlamadan önce sırası ile 2.5x$10^4$ (ohm-cm) ve 2.5x$10^2$ (ohm-cm) ve 250-450 °C arasındaki sıcaklıklarda, tavlamadan sonra CdS için 2.5x$10^4$-5x$10^6$ (ohm cm), $Cd_{0.8}ln_{0.2}S$ için 2.5x$10^2$-2.5x$10^5$ (ohm cm) arasında değiştiği hesaplanmıştır. Bu filimlerin yasak enerji aralıkları optik metodla CdS için 2.42 eV ve 2.44 ev, $Cd_{0.8}ln_{0.2}S$ için 2-39 eV ve 2-44 eV olmak üzere farklı ikişer değer bulunmuştur. X-ışını toz kırınım desenlerinden heriki filimin kristal yapılarının ASTM kartlarından hegzagonal olduğu tesbit edilmiştir. Yaptığımız deney sonucunda elde edilen $Cd_{0.8}ln_{0.2}S$ bilimlerin, tavlama işleminden sonra özdirençlerinde belirgin bir artışın olduğu görülmüştür. $Cd_{0.8}ln_{0.2}S$ filiminin özdirenci.CdS' ün özdirencine göre tavlamadan önce ve sonra biraz düşük ölçülmüştür. X-ışını spektrumları bu filimlerin polikristal olduklarını göstermektedir. |
| Anahtar Kelimeler |
| Makale Türü | Özgün Makale |
| Makale Alt Türü | Ulusal alan endekslerinde (TR Dizin, ULAKBİM) yayımlanan tam makale |
| Dergi Adı | Anadolu Üniversitesi Fen Fakültesi Dergisi |
| Dergi ISSN | 1300-8692 |
| Dergi Tarandığı Indeksler | TR DİZİN |
| Makale Dili | Türkçe |
| Basım Tarihi | 04-1996 |
| Sayı | 2 |
| Sayfalar | 161 / 172 |
| Makale Linki | https://trdizin.gov.tr/search/searchResults.xhtml |
